珀金埃爾默NexION 2000 ICP-MS等離子體質(zhì)譜儀，二手質(zhì)譜儀

PerkinElmer NexION 2000 是一款為基體元素分析設(shè)計的電感耦合等離子體質(zhì)譜儀，應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、環(huán)境監(jiān)測、食品檢測、及工業(yè)過程等領(lǐng)域，為痕量元素檢測提供解決方案。

產(chǎn)品介紹

一、通用池技術(shù)

采用三路氣體通道和三種測量模式實時切換，減少多原子干擾。

二、LumiCoil? 射頻技術(shù)

全固態(tài)射頻發(fā)生器無需水冷，等離子體穩(wěn)定性提升，離子傳輸效率提高。

三、三錐接口與免維護(hù)設(shè)計

采樣錐和截取錐位于真空腔外，可快速更換且不易堵塞。四極桿離子偏轉(zhuǎn)器分離帶電與中性粒子，背景噪音降低，真空系統(tǒng)無需維護(hù)。

四、擴(kuò)展動態(tài)范圍

單次進(jìn)樣可同時檢測 ppq 級汞和 ppm 級鈉，動態(tài)線性范圍達(dá)多個數(shù)量級，避免重復(fù)稀釋和進(jìn)樣。

應(yīng)用領(lǐng)域

一、半導(dǎo)體與微電子行業(yè)

冷等離子體

在分析半導(dǎo)體級鹽酸時，結(jié)合冷等離子體降低 Ar 離子化效率。

耐氫氟酸進(jìn)樣系統(tǒng)

標(biāo)配耐 HF 炬管和石英霧化器，直接分析含氟蝕刻液，無需復(fù)雜前處理，避免樣品污染風(fēng)險。

PerkinEImer NexION 2000等離子體質(zhì)譜儀

二、環(huán)境監(jiān)測

從地表水到土壤沉積物，PerkinEImer NexION 2000等離子體質(zhì)譜儀憑借全基體進(jìn)樣系統(tǒng)和通量分析能力，成為環(huán)境實驗室的工具

水體分析

直接處理高鹽廢水和海水，通過在線稀釋單元自動調(diào)整樣品濃度，同時分析 Na和 Cd等元素，動態(tài)范圍覆蓋廣。

土壤與沉積物

分析污染土壤時，結(jié)合 He 碰撞模式多原子干擾。

顆粒檢測功能可識別水體中的污染物。

三、材料科學(xué)與技術(shù)

顆粒表征

基于單顆粒 ICP-MS 技術(shù)，可同時測定顆粒的成分、尺寸及團(tuán)聚狀態(tài)。

在石墨烯研究中，通過檢測殘留金屬催化劑的含量，優(yōu)化制備工藝以提升材料純度。

合金與涂層分析

分析高溫合金時，同步測定主量元素和痕量雜質(zhì)，避免多次稀釋和重復(fù)進(jìn)樣。

PerkinEImer NexION 2000等離子體質(zhì)譜儀

四、食品安全

食品添加劑與污染物

檢測乳制品中的稀土元素時，啟用通用池的 O?反應(yīng)模式，將Ca,O?轉(zhuǎn)化為 CaO?，避免對Fe 的誤判。

分析奶粉中的碘含量時，采用H?反應(yīng)去除Ar，Ar?對Se 的干擾。

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